Süzer, ŞefikToppare, LeventYılmaz, LeventDeniz, Ö. ÜnerÜzcan, AkifKaynak, AkifAydın, Eşref2025-01-122025-01-121999https://search.trdizin.gov.tr/tr/yayin/detay/602534https://hdl.handle.net/11492/974101.11.1999X-ışınları fotoelektron spektroskopi, XPS (x-ray photoelectron spektroscopy), IR, UV-Görünür-NIR ve NMR spektroskopik teknikleri kullanılarak çeşitli polimerlerik maddelerin, camların, katalizörlerin ve güneş kollektörlerinde kullanılmak üzere geliştirilen çeşitli seçici yüzeylerin kimyasal kompozisyonları (özellikle içerdikleri atomların değerliklerinin saptanması paralelinde) saptandı ve bu komposizyonlan ile malzemelerin fızikokimyasal özellikleri arasında bağlantılar araştırıldı.trKimyaUygulamalıMalzeme bilimleriKaplamalar ve filmlerFizikokimyaMühendislikKimyaProject150info:eu-repo/semantics/openAccess602534